Caractérisation Instrumentation Plateformes

Ses objectifs sont:

• Recenser les équipements, expertises et développements instrumentaux pour favoriser en interne la communication des savoir-faire et la mise à disposition des équipements.
• Centraliser les besoins en équipements, développements instrumentaux et logiciels afin de mettre en place des actions de formation et de financement en accord avec les orientations scientifiques des thèmes et des pôles du laboratoire.
• Rendre visible nos ressources techniques et nos expertises et favoriser l'ouverture de certains équipements pour de la prestation ou des projets.
• Identifier les possibilités d'utilisation croisées avec d'autres laboratoires disposants d'équipements complémentaires. 

La liste suivante décrit par thématiques nos équipements et expertises:

- Caractérisation des matériaux

• Plateforme XPS-AES-UPS

• Plateforme Microscopie à Force Atomique (AFM)

• Plateforme de microscopie confocale: Raman, Photoluminescence, AFM

- Caractérisation magnétique

• Plateforme Enceinte climatique d'altitude