Nos Plateformes

	Microscopie en champ proche : AFM/ C-AFM, KPFM, résiscope (tarification sur demande)
	Caractérisation physico-chimique de surfaces : XPS/UPS (tarification sur demande)
	Spectroscopie optique confocale Raman / PL / AFM (tarification sur demande)

 

	Caractérisation des Matériaux Actifs (CarMA)
	Caractérisation de Matériaux et Dispositifs Semi-Conducteurs (CAMADISC)
	Caractérisations couplées Électriques et Tribologiques pour contacts électriques bas niveau
	Caractérisation de détecteurs en InfraRouge et ondes TERahertz (CIRTER)
	Caractérisation PV en extérieur
	Mesure et caractérisation pour l’électronique
	Arcs électriques
	Caractérisation « actionneur électrique »
	Essai fort courants (Garguantua)
	Power Hardware in the Loop (PHILIbert)
	Compatibilité Electo-Magnétique