Caractériser les matériaux et dispositifs semi-conducteurs
|
Contact : pv@geeps.centralesupelec.fr |
|
Il s’agit d’un ensemble de bancs de caractérisation de nature optique, optoélectronique, électrique et photoélectrique des matériaux semi-conducteurs et des composants utiles pour l’énergie et l’optoélectronique.
Nos équipements et bancs de caractérisation:
|
 |
- Caractérisation optique et optoélectronique
-
- Bancs de spectrométrie VIS-NIR-MIR
- Banc de Photoluminescence (continue (PL-RVB) et modulée (MPL) et transitoire (TRPL))
- Banc de photoconductance
- Banc d’Electroluminescence (EL) et d’EL par spectrographie à balayage
- Banc de mesures opto-électroniques par transformée de Fourier
- Caractérisation électrique et photoélectrique
- Mesure de résistivité 4 pointes (4W)
- Mesure par sonde de Kelvin (KP)
- Mesure par effet Hall
- Mesure de courants et photocourants DC (SSPC) et AC (MPC)
- Mesure de photocourants créés par un réseau d’interférences (SSPG)
- Mesure sous simulateur solaire
- Mesure de courants et d’impédance en fonction de la température et de la fréquence (I(V), Z(ω, T), DLTS)
|
|
|
