Plateformes

Plateforme de tribologie

Cette plateforme permet d’étudier l’évolution des propriétés couplées (mécaniques et électriques) des contacts bas-niveau au cours du temps en fonction de différents types de contraintes mécaniques :

• déplacements macroscopiques simulant des manœuvres d'insertion-extraction de connecteurs,
•  déplacements de l'ordre du micromètre créant dans nos conditions un mécanisme de dégradation appelé fretting,
•  vibrations de différentes fréquences amplitudes, de différents modes (sinus, aléatoires),
•  test de rayures (scratch test), pour de caractériser l’adhérence de revêtements, nanotribologie.

NanoScratch Tester (NST), Anton Paar : caractérisation de l’adhésion de revêtements de films minces sur un substrat. Appareil instrumenté pour mesures électriques simultanées à l'essai mécanique sur revêtement conducteur.

Plateforme de diagnostic de faisceaux électriques par réflectométrie :

• étude des défauts francs et non francs dans un harnais électrique,
• caractérisation de connecteur,
• couplage possible en environnement contraint (thermique, vibration).

Plateforme pour l’étude des contacts de puissance :

A l’état fermé (échauffement/ résistance de contact), lors de l’ouverture ou de la fermeture) sous tension DC (de 36 à 540 VDC) ou impulsionnelle, sous diverses pressions :

• caractérisation électrique de la coupure,
• observation de la coupure en cinématographie rapide (jusqu’à 500 000 images/seconde),
• thermographie IR rapide à faible temps de pose.

Plateforme profilomètre optique 3D :

Profilomètre optique 3D, Bruker, pour métrologie de surface rapide et sans contact. Résolution latérale 0.198 µm. Résolution verticale < 3 nm.

Plateforme enceinte climatique d’altitude

régulation de température entre -50°C et +200°C, régulation de pression entre 50 hPa et 1000 hPA, régulation de l’humidité à pression atmosphérique – Mesure de l’humidité pour les autres valeurs de la pression.

La plateforme AFM et AFM RESISCOPE :

5 AFM disponibles: Type d'imagerie: (taille scan max. 160µm x 160µm)  Hauteur (modes contact & intermittent) Electrique/Résiscope (modes contact & intermittent) Mécanique (mode intermittent) Electrostatique Potentiel de surface (Single & dual pass) Contrôle environnemental possible* * basses pressions jusqu’à 10-3 mbar, gaz neutre, humidité contrôlée, température variable (jusqu'à 250°C).

Mesures électriques/Résiscope:

Imagerie électrique locale de tension, courant ou résistance en modes contact et intermittent Spectroscopie électrique locale: tension, courant et résistance et courbes d'approche/retrait Caractéristiques des modules Résiscope:  Résiscope "Traditionnel": 102 à 1012 Ω (rate max: 5Hz)  Résiscope "Etendu": 104 à 1014 Ω (rate max: 0.5Hz)  Tension de polarisation: +/- 10mV à +/- 10V  Spectroscopie I(V): résolution en courant: 20fA

Caractérisation électrique de feuillets de graphène sur substrat d'or  (pointe PtIr, 100nN) pour la réalisation de films conducteurs uniformes par pulvérisation de graphène exfolié. Thèse Dalla Francesca (2016)

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