Caractérisations couplées Électriques et Tribologiques pour contacts électriques bas niveau

Caractériser le couplage électrique et tribologique pour contacts électriques de bas niveau

Plusieurs types de tribomètres permettent d’étudier les propriétés de contacts « modèle » sphère/plan lors de tests représentatifs des conditions de fonctionnement de contacts de la connectique bas niveau.

Nos équipements et bancs de caractérisation:

• 2 Bancs de frottements linéaires instrumentés et asservis permettant des déplacements
  millimétriques simulant des manœuvres d’insertion-extraction de connecteurs.
  
  • Pots vibrants (LDS) + amplificateurs
  • Systèmes d’asservissement en position et/ou force
  • Capteur de force + amplificateur de charge Kistler 5001
  • Capteur de déplacement + conditionneur de signal Heidenhain
  • Sourcemètre Keihtley 2400
  • Electromètre Keithley 657B
  • Nanovoltmètre Keithley 2182
• 1 Banc de frottement TRB3 fonctionnant en mode rotatif ou linéaire
  • Tribomètre TRB3, Anton PAAR
  • Système d’acquisition et d’analyse de microcoupure GnΩstic64, QED
  • Préamplificateur différentiel de tension SR560, Stanford Research
  • Sourcemètre Keithley 2450
• 1 banc de test de rayures.
  • Nanoscratch Tester NST3, Anton PAAR
  • Sourcemètre Keithley 2450
• 1 banc de micro-déplacements asservi de l’ordre du micromètre.
  • Pot vibrant
  • Amplificateur KEPCO
  • Système d’asservissement en position SIM960 Analog PID Controller,
  • Stanford Research
  • Capteur de force + amplificateur de charge Kistler 5018
  • Capteur de déplacement + conditionneur de signal Micro-Epsilon
  • Multimètre Keithley 2000
  • Boitier Acquisition USB-6363