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Microscopie en champ proche : AFM/ C-AFM, KPFM, résiscope

Le pôle MATERIAUX du laboratoire GeePs dispose d'une plateforme de microscopie en champ proche composée actuellement de 5 Microscopes à Force Atomique (AFM).
Ces microscopes, dédiés pour chacun à un environnement spécifique, permettent la caractérisation en surface de matériaux à des échelles allant du nm à quelques dizaines de micromètres. Par la mesure des forces d'interactions existant à l'échelle nanométrique entre l'extrémité d'une pointe AFM et la surface des matériaux, la microscopie AFM permet des cartographies de divers types : mécaniques, topographiques, magnétiques, électrostatiques, électriques, potentiels de surface, ...

Contact :   florent.loete@centralesupelec.fr

Caractériser la surface des matériaux de divers types : mécaniques, topographiques, magnétiques, électrostatiques, électriques, potentiels de surface, ...

 Contact :   pascal.chretien@centralesupelec.fr 

Dimension ICON (Bruker)

Dimension ICON (Bruker)

  • Platine pour grands échantillon Ø : 210mm x H : 15mm
  • Taille scan X/Y : 95x95μm.
  • Structure contrôlée en température & close-loop


Modes de mesure :

  • Contact, intermittent Peak-force/QNM/KPFM, Dark-lift, Data-Cube

Multimode 8 (Bruker)

Multimode 8 (Bruker)

  • Taille scan en X/Y: Grande taille de scan 160x160 μm.
  • Haute résolution sur taille de scan : 2,5 x 2,5 μm

Modes de mesure :

  • Contact, Peak-Force/QNM/KPFM, EFM, MFM, Résiscope

 

Multimode 2 (Bruker)

Multimode 2 (Bruker)

  • Taille scan en X/Y: Grand champ 160x160 μm.

Modes de mesure :

  • Contact, tapping, EFM, MFM, Résiscope
  • AFM en cours de modification pour la caractérisation
    électrique des Matériaux pour le photovoltaïque

NanoObserver (CSI)

NanoObserver (CSI)

  • Taille scan en X/Y: 90x90 μm.


Modes de mesure:

  • Contact, Tapping, intermittent Soft-Resiscope,
    KPFM (single pass), EFM, MFM, Résiscope
    Paramètrage semi-automatique (enseignement, TPs)

TRIOS (AIST-NT/HORIBA)

TRIOS (AIST-NT/HORIBA)

  • Taille scan en X/Y: 80x80 μm.

Modes de mesure AFM:

  • Contact, Mode AC, KPFM (AM et FM mode deux pass ),
    EFM, MFM et SPV, Résiscope.
    Laser de déflection IR (1310 nm) & Possibilité d’éclairer
    l’échantillon sous différents angles et longueurs d’onde.

 

 

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