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Notre plateforme de microscopie confocale est un équipement unique, que nous faisons évoluer. Il regroupe différentes techniques de microscopie optique (μ-Raman, μ-PL, TRPL, μ-EL) et de microscopie en champ proche (AFM, Résiscope).
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Nos équipements et bancs de caractérisation:
- Configuration Raman
- Identification des espèces chimiques sondées ainsi que leurs propriétés :
- Concentration dans le volume sondé
- Etat de contrainte de la matière (tension/ compression)
- Orientation cristalline
- Phase de la matière (amorphe, poly-cristallin, cristallin)
- Nature du dopage
- Equipements associés : 2 lasers, 2 spectromètres, 2 cryostatsConfiguration Photoluminescence (continue (PL), transitoire (TRPL) et 2photons (2P))
- Evaluation des qualités des surfaces et interfaces :
- Evaluation de l’énergie de bande interdite
- Taux de dopage
- Durée de vie des porteurs minoritaires (TRPL)
- Tomographie optique, reconstruction 3D d’absorbeurs ou dispositifs (2P)
- Equipements associés : 3 lasers continus, 2 lasers pulsés, 2 spectromètres, 1 compteur de photons, 2 cryostats
- Configuration Electroluminescence
- Evaluation des défauts, effets résistifs, et qualité des contacts électrique de
dispositifs
- Evaluation de l’énergie de bande interdite
- Localisation des pertes resistives, zones recombinantes, défauts de surface,
- détérioration des contacts
- Equipements associés : 1 sourcemètre, 3 caméras, 1 cryostat avec mesure 4 pointes
- Configuration AFM / CP-AFM (Résiscope)
- Mesure de la topographie de l’échantillon a l’échelle nanométrique
- Mesure électriques locales (résistivité, I-V)
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