Logiciel DeOSt
Le logiciel DeOSt, développé au GeePs, permet de réaliser des calculs numériques et des simulations de plusieurs techniques de caractérisation appliquées aux matériaux semi-conducteurs, parmi lesquelles :
- La conductivité,
- La photoconductivité,
- Absorption,
- Photocourant modulé (MPC),
- Méthode du photocourant constant (ac & dc) (CPM),
- Photoconductivité à double faisceau (DBP),
- Réseau de photocarrier en régime permanent (SSPG),
- Technique du réseau mobile (MGT),
- Photocourant transitoire (TPC),
- Spectroscopie transitoire photo-induite (PITS).
L'utilisateur peut définir une densité d'états (DOS), les paramètres de transport (mobilités, coefficients de capture,...) ainsi que des paramètres 'expérimentaux' (température, flux, champ électrique,...) pour, ensuite, effectuer des calculs numériques liés à une technique de caractérisation.
Un exemple de DOS défini pour le GeTe amorphe est présenté dans la Fig. 1, avec un pic d'états donneurs (brun), deux pics d'états accepteurs (bleu clair) et deux queues de bande (bleu foncé). Les résultats d'un calcul MPC sont présentés dans la Fig. 2a et comparés aux résultats expérimentaux (Fig. 2b). Toutes les tendances sont bien reproduites.
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| Figure 1: DOS défini pour le GeTe amorphe |
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Figure 2. (a) MPC-DOS calculé à partir de DeOSt comparé à (b) MPC-DOS expérimental. Pour plus de détails voir : C. Longeaud, J. Luckas, D. Krebs, R. Carius, J. Klomfass, M. Wuttig, "On the density of states of germanium telluride", J. Appl. Phys. 112, 113714 (2012) |
Contact : longeaud@geeps.centralesupelec.fr